標準簡介：本標準規(guī)定了金屬氧化物半導體氣敏件性能參數(shù)測試方法的基本原理，沒有規(guī)定這些方法在實際使用時的技術細節(jié)，測試時可按相應的詳細規(guī)范的規(guī)定進行。本標準適用于金屬氧化物半導體氣敏件性能參數(shù)的測試，其他氣敏件亦可參照使用。

標準號：GB/T 15653-1995

標準名稱：金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法

英文名稱：Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

標準類型：國家標準

標準性質：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：1995-07-24

實施日期：1996-04-01

中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>電子元件>>L15敏感元器件及傳感器

國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.020電子元件綜合

起草單位：電子工業(yè)部標準化研究所

歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

發(fā)布單位：國家技術監(jiān)督局

檢測流程步驟

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