標準簡介：本文件規(guī)定了光學對比度法（包括反射光譜法和光學圖片法）測量石墨烯相關二維材料的層數(shù)的儀器設備、樣品準備、測量步驟、測試報告等內(nèi)容。本文件適用于利用機械剝離法或化學氣相沉積法(CVD: chemical vapor deposition)制得的晶體質(zhì)量高、橫向尺寸不小于2 μm、層數(shù)不多于5的石墨烯薄片及石墨烯薄膜的層數(shù)測量。其他方法制得的石墨烯薄片及石墨烯薄膜可參照本文件執(zhí)行。

標準號：GB/T 40071-2021

標準名稱：納米技術 石墨烯相關二維材料的層數(shù)測量 光學對比度法

英文名稱：Nanotechnologies—Measurement of the number of layers of graphene-related two-dimensional (2D) materials—Optical contrast method

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2021-05-21

實施日期：2021-12-01

中國標準分類號（CCS）：綜合>>計量>>A50計量綜合

國際標準分類號（ICS）：計量學和測量、物理現(xiàn)象>>光學和光學測量>>17.180.30光學測量儀器

起草單位：泰州巨納新能源有限公司、東南大學、泰州石墨烯研究檢測平臺有限公司、中國科學院半導體研究所、哈爾濱工業(yè)大學(威海)、冶金工業(yè)信息標準研究院、江南大學、華東師范大學、深圳技術大學

歸口單位：全國納米技術標準化技術委員會納米材料分技術委員會(SAC/TC

發(fā)布單位：國家市場監(jiān)督管理總局.